Shimadzu 岛津 扫描荧光X射线分析仪 ZSX Primus IV

一、核心硬件参数

1. X 射线光管：Rh 铑靶，3kW/4kW 可选、30μm 超薄端窗，上照射式光路（X 射线管在样品上方），粉尘、液体不会污染分光光路，维保极低。

2. 分光系统：全自动连续扫描测角仪，扫描速度 2400°/min，角度重现 ±0.0001°；多组可切换分光晶体，适配轻重元素全波段。

3. 检测范围：Be (4)～U (92)，标配真空光路，可选氦气吹扫测松散粉末 / 液体 C、N、O、F 超轻元素。

4. 分析光斑：0.5/1/3/5/10/20/30mm 多档孔径，最小 500μm 微区单点 + 元素 Mapping 面分布扫描，测夹杂物、镀层、局部偏析。

5. 样品仓与进样：标配 48 位全自动样品交换台；适配压片、熔片、金属块、粉末、液体、薄膜、药片全形态样品。

6. 含量区间：ppm 痕量～100% 全组分，主量、微量、杂质同步定量，无标样 FP 法可做未知样品半定量。

二、核心产品优势

1. 上照射独有结构：杜绝样品扬尘污染晶体、探测器，常年故障率远低于下照机型，适合粉末、粉料、易掉屑样品长期测试。

2. 超轻元素拔尖：30μm 薄窗光管，C/B/N/O 检测灵敏度领先，锂电、无机粉体、矿石超轻组分常规检测。

3. 一机多用：既可日常来料质控，又可新材料研发、异物分析、镀层厚度 + 成分同步测试、元素面分布成像。

4. 智能软件 ZSX Guidance：自动优选谱线、扣除谱线重叠、基体校正，零基础一键建方法，内置各行业标准模板。

三、软件功能

• FP 基本参数法：无标样直接半定量，未知来料快速筛查；

• 标配熔片 / 压片 / 金属 / 薄膜专用校正程序；

• 自动导出 PDF/Excel 报告，可对接 LIMS 实验室系统；

• Mapping 模块输出元素分布云图，判定样品均匀性、夹杂缺陷。

四、适用行业