【高斯摩】日本CHINO千野 红外线超薄测厚仪IRMT01
【高斯摩】日本CHINO千野 红外线超薄测厚仪IRMT01
【高斯摩】日本CHINO千野 红外线超薄测厚仪IRMT01
产品概述
CHINO 千野 IRMT01 红外线超薄测厚仪，属于 IM 系列在线非接触式测厚设备，专为10μm 以下极薄有机涂层、薄膜开发，采用三波长红外 P 偏振光正反射检测方式，可在卷材产线上连续实时测量薄层厚度，有效消除基材表面反射干扰，实现超高灵敏度检测。探头不接触物料，不会划伤、污染基材，可搭配横移扫描架完成幅宽方向厚度分布检测，测量数据实时输出用于产线工艺闭环调控。
核心参数
测量原理：红外线三波长，P 偏振光正反射方式
测量对象：10μm 以下极薄有机薄膜、有机涂层
光源类型：钨灯
标准测量距离：50mm
测量光斑：约 12mm×20mm（测量距离 50mm 条件下）
输出更新周期：28ms，高速实时采集
通讯接口：标配 RS485（Modbus 协议），配套显示单元可输出两路 4-20mA 模拟信号
检测器工作环境温度：0～40℃
供电规格：检测器 24VDC，最大功耗 33VA
配套组件：搭配 IRGMEG 系列设定显示单元使用，可选 PC 端配套软件
结构形式：一体化检测探头，独立显示控制器
产品特点
P 偏振光光学系统，可抑制基材表面反射光干扰，解决极薄层信号微弱难题，实现微米级超薄涂层高精度测量
非接触在线检测，探头不与物料直接接触，无机械磨损，适配高速连续卷材生产线
测量距离提升至 50mm，相比传统机型，降低物料上下跳动、距离波动带来的测量误差，对产线抖动容忍度更高
28ms 高速响应，实时捕捉薄层厚度微小波动，快速反馈涂布工艺变化
内置自诊断功能，持续监测光源、光路状态，异常报警提示，降低产线意外停机风险
支持横移扫描架配套，沿卷材幅宽移动探头，检测整幅物料厚度均匀性，识别涂布厚薄偏差
丰富信号输出，数字总线 + 模拟量信号，可直接接入 PLC、工控系统，实现涂布工艺自动闭环控制
配套独立显示单元，本地查看厚度数值、设置参数、配置报警；PC 软件可用于数据记录与分析
机身结构紧凑，机架安装便捷，适合精密涂布产线改造与新建项目
应用场景
光学极薄功能膜、金属基材表面有机涂层、微量树脂涂布、溶剂型薄层涂布、极薄包装薄膜、精密电子薄膜等卷材生产线在线超薄涂层厚度监控。
使用注意事项
被测物料表面尽量平整，减少褶皱起伏，避免光斑范围内物料厚度不均造成测量偏差
探头光学窗口需定期清洁，粉尘、油污附着会干扰偏振光路，直接降低薄层测量精度
正式投产前，必须使用对应基材与涂层样品完成标定，不同基材的反射特性差异大，不可直接套用其他物料标定曲线
安装位置避开强光直射、蒸汽、高粉尘飞溅区域，防止外界光线干扰偏振光学检测
探头支架固定牢固，降低产线震动带来的探头位移，维持探头与物料之间距离稳定
物料配方、涂层体系发生变更时，需要重新校验标定曲线，保证长期测量准确度