【高斯摩】日本CHINO千野 IRMA8100红外线水分和厚度仪

【高斯摩】日本CHINO千野 IRMA8100红外线水分和厚度仪

产品概述

CHINO 千野 IRMA8100 红外线水分和厚度仪，属于 IM 系列光纤式厚膜 / 厚涂层专用红外多成分在线分析仪，采用光纤光路传输，主机与检测探头分离。依托近红外吸收反射原理，非接触式在线检测厚涂层、厚片材厚度，同时可同步检测物料含水率、有机组分、色浓度，最多支持 4 种组分同时测量。光纤探头体积小巧，可布置在狭小、高温工况，可搭配横移扫描架，检测卷材幅宽方向厚度与成分分布，实时输出数据用于产线工艺闭环调控。

核心参数

1. 测量原理：近红外反射吸收式分光检测，光纤式光学结构，厚膜专用光学配置

2. 可测组分：最多同时测定 4 种成分，支持厚涂层厚度、薄膜厚度、水分、有机组分、色浓度检测

3. 厚度测量范围：15μm～700μm，适配厚涂层、厚片材检测

4. 光纤规格：标准长度 1.5m，最长可定制至 5m，不锈钢铠装保护，最小弯曲半径 R100mm

5. 测量光斑：无透镜 φ15～50mm；加装透镜 φ25～100mm

6. 探头耐温：0～150℃，可用于高温被测物料场景

7. 响应时间：28ms 高速采集，实时输出测量结果

8. 内置波长：最多搭载 10 组检测波长，按需选配

9. 信号输出：4-20mA 模拟量，RS485 Modbus 通讯，可选以太网通讯

10. 工作环境温度：0～50℃

11. 供电规格：24VDC

12. 标定曲线：可存储 99 组标定曲线，支持按物料自定义校准曲线

13. 结构形式：分析仪主机 + 光纤线缆 + 光纤探头，配套独立显示控制器使用

产品特点

• 光纤分体式 + 厚膜专项优化，对比镜式 IRMA7100，探头体积更小，适合空间受限的产线，专门针对厚涂层、厚片材优化光路与算法，厚区间测量稳定性强，降低光谱饱和带来的测量漂移

• 非接触在线检测，探头不触碰物料，无机械磨损，不会划伤基材，适配高速连续卷材生产线

• 一机多参数，同一光纤探头同步获取厚度、水分、有机成分，减少设备数量，简化产线布线

• 毫秒级快速响应，跟随高速走料，捕捉物料厚度、水分瞬时波动，及时反馈工艺变化

• 内置自诊断功能，持续监测光源、光路状态，异常提前报警，降低产线停机风险

• 光纤采用不锈钢铠装防护，抗挤压，布线灵活，可绕开设备构件布置

• 支持横向扫描架配套，沿卷材幅宽移动光纤探头，检测整幅物料厚度与成分分布均匀性

• 丰富通讯接口，模拟量、数字总线可直接接入 PLC、工控系统，实现自动闭环调控

• 可根据基材、涂料配方定制标定曲线，适配厚涂布、厚塑料片材、厚纸、橡胶片材等物料

应用场景

狭小设备腔体、高温工况下的厚涂布薄膜、厚塑料片材、厚纸张纸板、橡胶片材、厚涂料涂层、锂电池厚涂层、无纺布厚涂工艺等卷材生产线在线厚度与水分监控。

使用注意事项

1. 被测物料表面尽量平整，减少褶皱起伏，避免光斑范围内物料厚薄不均带来测量偏差

2. 光纤探头光学窗口需定期清洁，粉尘、水汽附着会干扰红外光路，影响测量精度

3. 光纤弯折不可小于最小弯曲半径，防止光纤内部断裂、光路失效

4. 正式投产测量前，必须使用对应物料样品完成标定，厚涂层光谱特性特殊，不可套用薄膜物料标定曲线

5. 安装位置避开强光直射、大量蒸汽、高粉尘飞溅区域，防止干扰红外检测光路

6. 物料配方、涂层厚度区间发生变更时，需要重新校验标定曲线，保证长期测量准确度