【高斯摩】日本直供CHINO千野 IRMA31红外线水分和厚度仪

【高斯摩】日本直供CHINO千野 IRMA31红外线水分和厚度仪

产品概述

CHINO 千野 IRMA31 红外线水分和厚度仪，属于 IM 系列镜式多成分红外在线分析仪，为紧凑型镜式检测探头单元，依托近红外吸收反射原理，非接触式同步检测物料含水率、涂层厚度、薄膜厚度，还可检测有机成分、色浓度，最多支持 4 种组分同时测量，适配各类卷材产线，可搭配横向扫描架，对幅宽方向物料进行全域扫描检测，探头不接触物料，不会划伤基材，实时输出数据用于产线工艺闭环控制。

核心参数

1. 测量原理：近红外反射吸收式分光检测，镜式光学结构

2. 可测组分：最多同时测定 4 种成分，水分、涂层厚度、薄膜厚度、有机组分、色浓度

3. 测量距离：标准工作距离 300mm，测量光斑 φ30mm

4. 响应时间：28ms 高速采集，实时输出测量结果

5. 内置波长：最多搭载 10 组检测波长，按需选配

6. 信号输出：4-20mA 模拟量，RS485 Modbus 通讯，可选以太网通讯

7. 工作环境温度：0～50℃

8. 供电规格：24VDC

9. 标定曲线：可存储 99 组标定曲线，支持按物料自定义校准曲线

10. 结构形式：小型镜式检测探头，可独立搭配显示控制器使用

产品特点

• 紧凑型镜式探头，体积小巧，安装占用空间小，适合机架空间有限的产线改造项目

• 非接触在线检测，探头不与物料直接接触，无磨损，不会损伤薄膜、纸张、涂布卷材

• 多组分同步检测，同一探头同时获取水分与涂层厚度，减少设备投入，简化产线布线

• 毫秒级快速响应，可跟随高速走料，捕捉物料瞬时成分波动，及时反馈工艺变化

• 内置自诊断功能，持续监测光源、光路状态，出现异常提前报警，降低停机风险

• 支持横向扫描架配套，沿卷材幅宽移动探头，检测整幅物料的厚度、水分分布均匀性

• 丰富通讯接口，模拟量、数字总线可直接接入 PLC、工控系统，实现自动闭环调控

• 可根据基材、涂料配方定制标定曲线，适配多种有机卷材、片材、纤维类物料

应用场景

涂布薄膜生产线、造纸及纸板加工、纺织面料烘干、无纺布生产、锂电池极片、塑料片材、食品原料、化工卷材在线水分与涂层厚度监控，适合需要扫描幅宽分布的产线。

使用注意事项

1. 被测物料表面尽量平整，减少褶皱起伏，避免光斑范围内物料厚薄不均带来测量偏差

2. 探头光学窗口需定期清洁，粉尘、水汽附着会干扰红外光路，影响测量精度

3. 正式投产测量前，必须使用对应物料样品完成标定，不同基材光谱特性不同，不可直接套用通用曲线

4. 安装位置避开强光直射、大量蒸汽、高粉尘飞溅区域，防止干扰红外检测光路

5. 探头支架固定牢固，减少产线震动造成探头位移，维持探头与物料之间距离稳定

6. 物料配方发生变更时，需要重新校验标定曲线，保证长期测量准确度