【高斯摩】日本直供CHINO千野 IRMA1300红外线水分和厚度仪

【高斯摩】日本直供CHINO千野 IRMA1300红外线水分和厚度仪

产品概述

CHINO 千野 IRMA1300 红外线水分和厚度仪，属于 IM 系列镜式红外多成分在线分析仪，为微量水分专用机型，依托近红外反射吸收原理，非接触式同步检测物料微量含水率、涂层与薄膜厚度，最多可同时测定 4 种组分，适合低含水率卷材、薄膜、片材的流水线连续在线监测。探头不接触被测基材，不会划伤、污染样品，实时输出测量数据，用于生产工艺闭环调控。

核心参数

1. 测量原理：红外反射吸收式，微量水分专用光学配置

2. 可测组分：最多同时测定 4 种成分，支持微量水分、涂层厚度、薄膜厚度、有机组分、色浓度检测

3. 水分测量范围：0.01～1% H₂O

4. 膜厚测量范围：2.0～30μm

5. 测量距离：160～300mm，标准工作距离 200mm；测量光斑 50mm×50mm

6. 响应时间：28ms，高速实时采集

7. 内置波长：最多搭载 10 组检测波长，标配 2 波长

8. 信号输出：4-20mA 模拟量，RS485（Modbus）通讯，可选以太网

9. 工作环境温度：0～50℃

10. 供电规格：24VDC

11. 内置曲线：预存 99 组标定曲线，可根据物料自定义校准曲线

12. 结构形式：镜式探头，一体化检测单元，自带显示屏与操作按键

产品特点

• 微量水分专用光学设计，相比 IRMA1100 通用款、IRMA1200 高水分款，针对极低含水率物料优化光路与算法，微量区间灵敏度高，测量漂移小

• 非接触在线检测，探头不触碰物料，避免划伤、污染样品，适合高速连续生产线

• 一机多参数，同一探头同时获取微量水分与涂层厚度，减少设备安装数量，节约产线空间

• 毫秒级快速响应，适配高速走料产线，实时捕捉物料微小水分波动，及时反馈工艺变化

• 自带自诊断功能，可监测光源、光路异常，提前预警故障，降低产线停机风险

• 内置丰富标定曲线，支持针对不同基材、涂料进行定制校准，适配各类低含水薄膜、片材

• 通讯接口丰富，模拟信号、数字总线可直接接入 PLC、工控系统，实现生产闭环控制

• 一体式探头自带显示面板，本地直接查看测量数值，也可外接控制器集中监控

• 机身结构紧凑，便于在产线机架上安装，可搭配横向扫描架，完成幅宽方向全域检测

应用场景

塑料薄膜、锂电池隔膜、光学膜、精密涂布片材、干燥纸张、化纤薄膜、药品包装膜等低含水率卷材生产线在线微量水分与涂层厚度监控。

使用注意事项

1. 被测物料表面尽量平整，减少褶皱起伏，避免光斑内物料厚薄不均造成测量偏差

2. 保持探头窗口清洁，粉尘、水汽附着会干扰红外光路，需定期擦拭保护镜片

3. 测量前必须使用对应物料样品完成标定，微量物料光谱特性敏感，不可套用普通物料标定曲线

4. 避开强光直射、蒸汽、粉尘飞溅的环境，防止干扰红外检测光路

5. 安装固定牢固，降低产线震动带来的探头位移，保持探头与物料之间距离稳定

6. 定期校验标定曲线，物料配方变更后需要重新校准，保障微量区间测量精度