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![【高斯摩】日本 HIOKI日置 红外测温仪FT3701-20]()
【高斯摩】日本 HIOKI日置 红外测温仪FT3701-20
【高斯摩】日本 HIOKI日置 红外测温仪FT3701-20【高斯摩】日本 HIOKI日置 红外测温仪FT3701-20产品概述FT3701-20 为远距离窄视野手持式非接触红外测温设备，采用 8 至 14μm 标准红外测温波段，依托 30:1 高光学倍率，可远距离精准测量狭小测点表面温度。无需接触带电、高温运转部件，适用于配电柜端子、电机轴承、小型元器件、管道接点等狭小目标巡检，规避接触测量带来
2026-07-28 admin 0
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![【高斯摩】日本 HIOKI日置 红外测温仪FT3700-20]()
【高斯摩】日本 HIOKI日置 红外测温仪FT3700-20
【高斯摩】日本 HIOKI日置 红外测温仪FT3700-20【高斯摩】日本 HIOKI日置 红外测温仪FT3700-20产品概述FT3700-20 为手持式非接触红外测温设备，采用 8 至 14 微米通用红外测温波段，无需接触被测物体即可采集表面温度。设备搭载双激光定位功能，可快速锁定测量区域，适用于电气设备巡检、机械工况监测、暖通调试、实验室温度筛查，规避高温、带电部件接触测量带来的作业风险。核
2026-07-28 admin 1
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![【高斯摩】日本 HIOKI日置 照度计FT3424]()
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![【高斯摩】日本 HIOKI日置 数据采集器LR5092-20]()
【高斯摩】日本 HIOKI日置 数据采集器LR5092-20
【高斯摩】日本 HIOKI日置 数据采集器LR5092-20【高斯摩】日本 HIOKI日置 数据采集器LR5092-20产品概述LR5092-20 是适配 LR5000 系列迷你数据记录仪的便携数据采集终端，依托红外通信方式读取记录仪存储数据，完成多测点现场数据汇总。设备支持本地缓存存储，可通过 SD 卡或 USB 接口将数据上传至计算机，同时具备记录仪参数下发配置功能，适合多点分散式温度、电压、
2026-07-28 admin 3
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![【高斯摩】日本 HIOKI日置 飞针测试机FA1813]()
【高斯摩】日本 HIOKI日置 飞针测试机FA1813
【高斯摩】日本 HIOKI日置 飞针测试机FA1813【高斯摩】日本 HIOKI日置 飞针测试机FA1813产品概述FA1813 采用水平式四臂双面同步探测架构，是面向高密度封装基板、探针卡开发验证的高精度裸板测试设备。设备无需定制测试治具，基板单次装夹即可完成正反两面线路检测，适用于半导体研发样品、小批量试产环节，检出微细线路开路、短路、绝缘不良、微阻抗异常缺陷，广泛应用先进封装产业链品质管控。
2026-07-28 admin 2
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![【高斯摩】日本 HIOKI日置 飞针测试机FA1811]()
【高斯摩】日本 HIOKI日置 飞针测试机FA1811
【高斯摩】日本 HIOKI日置 飞针测试机FA1811【高斯摩】日本 HIOKI日置 飞针测试机FA1811产品概述FA1811 为上置双臂单面飞针裸板测试设备，专为小型封装基板、探针卡样品电气检测开发。设备无需制作专用测试治具，依托电阻法与电容法两套检测模式，兼顾高精度测量与检测效率，适用于半导体研发验证、小批量来料品质筛查，排查微线路开路、短路、绝缘不良缺陷。核心规格整机搭载两支上部测试臂，仅
2026-07-28 admin 1
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![【高斯摩】日本 HIOKI日置 飞针测试机FA1817]()
【高斯摩】日本 HIOKI日置 飞针测试机FA1817
【高斯摩】日本 HIOKI日置 飞针测试机FA1817【高斯摩】日本 HIOKI日置 飞针测试机FA1817产品概述FA1817 是水平四臂双面飞针裸板测试设备，搭载上下两组测试臂实现基板双面同步探测，无需人工翻面。设备面向高密度 PCB、常规封装基板、射频线路板开展电气检测，无需定制测试治具，适配研发样板验证、多品种小批量裸板来料质检，有效排查线路开路、短路、绝缘异常等缺陷，服务工控、通信、电源
2026-07-28 admin 0
