【高斯摩】日本CHINO千野 IRMA7200红外线水分和厚度仪

【高斯摩】日本CHINO千野 IRMA7200红外线水分和厚度仪

产品概述

CHINO 千野 IRMA7200 红外线水分和厚度仪，属于 IM 系列镜式红外多成分在线分析仪，为超薄薄膜、极薄涂层专用检测探头，依托近红外吸收反射原理，非接触式在线检测超薄涂层、薄膜厚度，同步检测物料含水率、有机组分、色浓度，最多支持 4 种组分同时测量。探头不直接接触基材，不会划伤、污染样品，可搭配横移扫描架，检测卷材幅宽方向厚度与成分分布，实时输出数据用于产线工艺闭环调控。

核心参数

1. 测量原理：近红外反射吸收式分光检测，镜式光学结构，超薄膜专用光学配置

2. 可测组分：最多同时测定 4 种成分，支持超薄涂层厚度、薄膜厚度、水分、有机组分、色浓度检测

3. 厚度测量范围：0.5μm～20μm，适配极薄薄膜、薄层涂布检测

4. 测量距离：标准工作距离 300mm，测量光斑 φ30mm

5. 响应时间：28ms 高速采集，实时输出测量结果

6. 内置波长：最多搭载 10 组检测波长，按需选配

7. 信号输出：4-20mA 模拟量，RS485 Modbus 通讯，可选以太网通讯

8. 工作环境温度：0～50℃

9. 供电规格：24VDC

10. 标定曲线：可存储 99 组标定曲线，支持按物料自定义校准曲线

11. 结构形式：镜式检测探头单元，配套独立显示控制器使用

产品特点

• 超薄薄膜专项优化机型，和 IRMA7100 厚膜款形成互补，针对微米级极薄涂层、光学薄膜优化光路与算法，薄层检测灵敏度高，微小厚度变化可稳定捕捉

• 非接触在线检测，探头不触碰物料，无机械磨损，适合高速连续卷材生产线

• 一机多参数，同一探头同步获取厚度、水分、有机成分，减少设备数量，简化产线安装布线

• 毫秒级快速响应，可跟随高速走料，捕捉物料厚度、水分瞬时波动，及时反馈工艺变化

• 内置自诊断功能，持续监测光源、光路状态，异常提前报警，降低产线停机风险

• 支持横移扫描架配套，沿卷材幅宽移动探头，检测整幅物料厚度与成分分布均匀性

• 丰富通讯接口，模拟量、数字总线可直接接入 PLC、工控系统，实现自动闭环调控

• 可根据基材、涂料配方定制标定曲线，适配光学膜、锂电隔膜、超薄涂布等精密薄膜

• 结构紧凑，机架安装方便，无尘版本可减少金属粉尘产生，满足洁净车间使用需求

应用场景

光学薄膜、PET 超薄膜、锂电池隔膜、精密薄层涂布、柔性包装薄膜、超薄功能涂层等卷材生产线在线厚度与水分监控。

使用注意事项

1. 被测物料表面尽量平整，减少褶皱起伏，避免光斑范围内物料厚薄不均带来测量偏差

2. 探头光学窗口需定期清洁，粉尘、水汽附着会干扰红外光路，影响薄层测量精度

3. 正式投产测量前，必须使用对应物料样品完成标定，极薄涂层光谱信号微弱，不可套用厚膜物料标定曲线

4. 安装位置避开强光直射、大量蒸汽、高粉尘飞溅区域，防止干扰红外检测光路

5. 探头支架固定牢固，减少产线震动造成探头位移，维持探头与物料之间距离稳定

6. 物料配方、涂层厚度区间发生变更时，需要重新校验标定曲线，保证长期测量准确度