【高斯摩】日本CHINO千野 便携式红外红外温度仪IR-HAI
【高斯摩】日本CHINO千野 便携式红外红外温度仪IR-HAI
【高斯摩】日本CHINO千野 便携式红外红外温度仪IR-HAI
产品概述
IR-HAI 属于 CHINO 千野 IR-HA 系列单色中温型便携式红外辐射温度仪，轻量化手持测温设备，搭载 1.55μm 专用短波 InGaAs 检测元件，测温量程 300～1000℃。配备带调光滤片的直视取景器，取景器内部集成数字显示屏，瞄准目标时可直接读取温度读数。短波测温降低金属工件表面氧化、发射率波动带来的测量影响，支持外接 K 型热电偶进行发射率校正，适合热处理、锻造、窑炉等中温工件现场巡检、品质抽检，非接触测量，远离高温工件，保障操作人员安全。
核心参数
检测元件：InGaAs 铟镓砷光电元件
测量波长：1.55μm 短波
测温量程：300～1000℃
测量精度（基准环境 23±5℃，ε=1.0）：±6℃
重复性：≤1℃
温度分辨率：1℃
响应时间：0.2s
光学规格：固定焦点，φ20mm@4000mm，4 米距离可测量 φ20mm 微小目标
瞄准方式：直视取景器，取景器内置 LCD 数显，机身背部附带显示屏
发射率设定：0.10～1.00，0.01 步进可调；支持 K 型热电偶输入，用于发射率校正
数据存储：选配 SD 卡存储温度 + 时间戳记录；可选蓝牙模块无线传输数据
供电：2 节 3 号干电池；可选购 AC 电源适配器
外形尺寸：W150×H100×D50mm
整机重量：约 500g（不含电池）
使用环境：0～50℃，湿度≤90% RH（无凝露）
产品特点
1.55μm 中温短波设计，针对 300~1000℃金属工件优化，相比长波测温仪，工件表面氧化皮、发射率变化对测温结果影响更小，中温段测量稳定。
双显示设计，取景器自带显示屏，观测高温目标的同时直接读取温度，无需反复转移视线，现场巡检操作便捷；取景器内置调光滤片，强光高温目标观测不刺眼。
固定焦点光学系统，远距离 4m 可测量 φ20mm 微小工件，适合狭小炉腔、小型锻件单点测温。
支持外接 K 型热电偶进行发射率补偿校准，大幅提升实测精度，满足精密品质检测需求。
选配 SD 卡存储测温记录，自带时间信息，方便品质追溯、材料热性能试验数据归档；选配蓝牙模块，测温数据可无线传输至电脑。
轻量化机身，单手握持，适合热处理车间、窑炉现场移动巡检；非接触测温，无需接触高温工件，规避烫伤风险。
内置最大值、最小值、平均值运算功能，捕捉瞬态温度峰值，满足热处理、热加工工艺检测需求。
应用场景
金属热处理行业：回火、退火、中温锻造工件现场温度巡检
冶金行业：钢坯、烧结件、热处理窑炉中温段工件测温
玻璃、陶瓷行业：中温窑炉、陶瓷烧结件单点温度检测
机械加工：热冲压、热成型工件品质抽检
科研院所：中温材料热性能测试、材料试验台测温
工业炉维护检修：炉壁、加热元件中温巡检
使用注意事项
测温光斑必须完整覆盖被测目标，目标尺寸小于光斑，测量结果会偏低。
测量金属工件，根据材质合理设置发射率，定期使用接触式测温比对校准。
烟雾、粉尘大量遮挡光路会影响测量精度，尽量保持光路洁净。
仪器镜头不可直接对准强光、等离子光源，防止内部检测元件损坏。
长期不使用请取出电池，防止电池漏液腐蚀内部电路。
清洁镜头只能使用无尘软布轻擦，禁止硬物刮伤光学镜片。