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【高斯摩分析】NITTOSEIKO 日东精工 Loresta GXII MCP-T710 低电阻电阻率计

2026-08-01 16:35:06 admin 1

【高斯摩分析】NITTOSEIKO 日东精工 Loresta GXII MCP-T710 低电阻电阻率计

【高斯摩分析】NITTOSEIKO 日东精工 Loresta GXII MCP-T710 低电阻电阻率计


在半导体、光电薄膜、导电高分子材料研发与产线质控环节,导电材料表面电阻率、体积电阻率是核心评价指标。传统测试设备量程受限、易受接触电阻干扰,难以兼顾金属薄膜超低阻与防静电中高阻材料一体化检测。日东精工 Loresta GXII MCP-T710 低电阻电阻率计,采用标准四探针测量法,契合 JIS K 7194 测试规范,实现宽量程、高精度无损检测,成为导电材料实验室与工厂质检主流测试仪器。

MCP-T710 测量量程覆盖10⁻⁴Ω~10⁷Ω,有效拓展低阻测量下限。依托四端子四探针测量原理,从根源消除引线电阻、探针接触电阻带来的测量误差;仪器支持电流极性换向测量,专门适配硅晶圆等具备 PN 结特性的半导体试样,有效抑制极化效应造成的数据漂移。整机搭载 7.5 英寸彩色触控显示屏,界面直观,支持 Ω、方块电阻 Ω/□、体积电阻率 Ω・cm、电导率 S/cm 四种单位一键切换。

设备内置自动保持、定时测量功能,一键完成整套检测流程;本地可存储 2000 组测量数据,支持 USB 外接导出,便于品质数据归档追溯。仪器可搭配多款 MCP 系列弹簧探针,探针能够维持恒定针距与接触压力,适配薄片、薄膜、块状、曲面多种形态试样,针对微小样品、窄幅薄膜可选配小型专用探头。

产品核心优势

超宽测量量程

兼顾超低阻金属镀层、导电浆料,以及防静电橡胶、导电塑料等中高阻材料,一台设备覆盖多种品类样品测试。

半导体专项测量模式

硅模式配合极性换向技术,解决晶圆、半导体薄片极化干扰难题,测试结果稳定性显著提升。

无损快速检测

无需提前制作电极,探针直接接触样品表面完成测试,试样可重复利用,适合新材料研发筛选。

人性化触控操作系统

参数设置、RCF 修正系数计算、数据调取集成一体,操作人员上手门槛低,兼顾科研实验室与产线班组使用。

丰富探头拓展方案

常规、微小型、曲面专用探头可选,满足 ITO 导电玻璃、极薄薄膜、小型元器件差异化测试需求。

典型应用场景

ITO 透明导电薄膜、金属蒸镀薄膜、导电油墨与导电银浆、导电塑料 / 导电橡胶、导电织物、导电陶瓷;硅晶圆半导体基材;防静电材料、EMI 电磁屏蔽材料、电镀镀层、锂电池导电极片性能检测。广泛应用光电行业、新材料研发、半导体制造、高分子材料实验室、来料品质管控工序。

使用注意事项

测试前清理样品表面粉尘、油污,保障探针接触良好;不同厚度试样准确录入厚度参数,确保电阻率换算准确;探头针尖避免硬物磕碰造成变形;长期连续测试定期使用标准试片校验设备精度;新旧 GX 系列探头互不通用,选购配件注意区分型号。

日东精工 Loresta 系列拥有完整电阻率测试产品线,MCP-T710 可与高阻电阻率仪形成组合方案,构建从导电到防静电材料全覆盖的电学性能检测体系。


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