【高斯摩】NITTOSEIKO日东精工 低电阻率自动测量系统紧凑型映射系统MCP-S330型号
【高斯摩】NITTOSEIKO日东精工 低电阻率自动测量系统紧凑型映射系统MCP-S330型号
【高斯摩】NITTOSEIKO日东精工 低电阻率自动测量系统紧凑型映射系统MCP-S330型号

一、产品简介
二、技术参数
品牌:NITTOSEIKO 日东精工(日东精工分析科技)
型号:MCP-S330
测量原理:四端子四探针法
测量项目:表面电阻率(Ω/□)、体积电阻率(Ω・cm)
配套主机:Loresta GX(MCP-T710)
电阻率量程:10⁻⁴~10⁷ Ω
最大样品尺寸:300mm×300mm
测量定位方式:网格输入、直线输入、顺序输入,支持外部坐标导入
自动化功能:测量、计算、数据处理、3D 图形输出全自动化
比较器功能:屏幕标注超量程测量点
数据接口:USB
电源:AC100–240V(50/60Hz),功率 63VA
外形尺寸:543×492×410mm
设备重量:约 22kg
使用环境:10–40℃,湿度≤80% RH(无结露)
三、核心优势
精密测绘,分布可视化:精准表征表面 / 体积电阻率分布,直观呈现 ITO 膜、导电涂层等材料的膜厚与成分均匀性,3D 图谱一键生成。
宽量程适配,通用性强:搭配 Loresta GX 覆盖 10⁻⁴~10⁷ Ω,适配低阻金属、高阻导电薄膜等各类低阻材料。
大尺寸兼容,批量高效:支持 300mm 见方样品扫描,可连续测量多个样品,定位方式灵活,适配研发与量产抽检。
全自动运行,操作极简:从定位扫描到数据输出全程自动化,减少人为误差,提升测试效率。
紧凑型设计,场景灵活:体积小、重量轻,适配实验室台面与产线空间,安装调试便捷。
数据追溯便捷:USB 接口快速导出数据与图谱,支持 SOP 流程记录,满足质控追溯需求。
四、应用领域
显示行业:LCD/OLED 电极基板、ITO 玻璃 / 薄膜、导电膜均匀性检测。
电子材料:金属箔、导电涂层、导电胶、柔性电路薄膜。
新能源:锂电池集流体、导电薄膜电极材料、固态电解质表面电性测试。
精密制造:半导体晶圆、磁性材料、薄膜电阻器、传感器涂层。
科研质控:高校 / 企业研发材料电性表征、生产过程批次一致性检测。
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